内存测试

╰+哭是因爲堅強的太久メ 2022-10-02 03:45 190阅读 0赞

DDR测试软件

(R.S.T )UX版

以下是内存测试软件的界面图:

[![153712453.jpg][]][153712453.jpg]

0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF

如以上的示范图:

闪动的

代表8颗粒的区域

横着数0-7带表第一颗区域8-F代表第二颗区域,0-7带表第三颗区域,8-F代表第四颗区域

依次带表8颗颗粒的内存条

⒈DDR8位与16位的单面测法:

注意:DDR的颗粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8

⑴.0-7(第1颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第一颗粒已经损坏

⑵. 8-F(第2颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第二颗粒已经损坏

⑶. 0-7(第3颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第三颗粒已经损坏

⑷.8-F(第4颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第四颗粒已经损坏

⑸. 0-7(第5颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第五颗粒已经损坏

⑹. 8-F(第6颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第六颗粒已经损坏

⑺. 0-7(第7颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第七颗粒已经损坏

⑻. 8-F(第8颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第八颗粒已经损坏

⒉如果你是128M的双面DDR内存,如以上显示界面图:

1-16M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------

16-32M -------------------------------------------------------------------------------------------------------

32-48M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------

48-64M-------------------------------------------------------------------------------------------------------------

从1M到64M的上面的4根虚线上出现乱码的话,代表这跟内存的的第一面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)

64-80M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------

80-96M -------------------------------------------------------------------------------------------------------

96-112M------------------------------------------------------------------------------------------------------------

112-128M----------------------------------------------------------------------------------------------------------

从64M到128M的上面的4根虚线上出现乱码的话,代表这跟内存的的第二面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)

注意:在内存的PCB板上的两边标着1与92的代表第一面93与184的代表第二面,1-128M的8根虚线是用来区分两面区域的作用.

⒊SD的8位与16位的单面测法:

注意:SD的颗粒排列循序是8-4-7-3-6-2-5-1

⑴.0-7(第1颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第8颗粒已经损坏

⑵. 8-F(第2颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第4颗粒已经损坏

⑶. 0-7(第3颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第7颗粒已经损坏

⑷.8-F(第4颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第3颗粒已经损坏

⑸. 0-7(第5颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第6颗粒已经损坏

⑹. 8-F(第6颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第2颗粒已经损坏

⑺. 0-7(第7颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第5颗粒已经损坏

⑻. 8-F(第8颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第1颗粒已经损坏

4.通过以上的说明SD的双面是跟DDR的是一样的但是颗粒的好坏判断要按照

他们的排列循序来判断的.

5.PCB板的短路或者虚焊的测法:在以8根虚线上都出现乱码代表这根内存的PCB板有问题

6.不点亮内存的测试方法:很多内存短路和颗粒损坏后都不能点亮,不点亮的可以用

一根好的内存去带动他.必须SD的带SD的.DDR的带DDR的.内存软件会自动跳过好的那根去检测坏的那条.

7.使用方法:直接把软盘插入软驱,在主板的CMOS里设置软驱起动,起动后本软件会自动引导到测试界面进行检测

转载于:https://blog.51cto.com/miller0intarnet/406216

[153712453.jpg]: https://s1.51cto.com/attachment/201010/153712453.jpg

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